profilometer n.【機械工程】輪廓曲線儀；表面光度儀；縱斷面測繪器 (...
n. 【機械工程】輪廓曲線儀；表面光度儀；縱斷面測繪器 (＝profilograph)。 “electrical profilometer“ 中文翻譯： 電接觸式輪廓儀“electronic profilometer“ 中文翻譯： 電子表面光度儀; 電子表面光潔度測量儀; 電子超光面測定儀“micro-profilometer“ 中文翻譯： 表面光潔度輪廓儀; 顯微輪廓儀“linnik micro-profilometer“ 中文翻譯： 林尼克顯微輪廓儀“surface dynamic profilometer“ 中文翻譯： 表面動態光潔度檢查儀“wire-drawing die profilometer“ 中文翻譯： 拉絲模模孔檢查儀“profilometry“ 中文翻譯： 輪廓測定法“profilograpy“ 中文翻譯： 顯微光波干涉儀“profiloscope“ 中文翻譯： 拉模孔光潔度檢查儀; 模孔光學檢查儀; 縱斷面觀測鏡; 縱剖面測繪儀“profilograph“ 中文翻譯： 表面光度計; 表面光度儀；輪廓測定器；縱斷面測繪器; 表面光潔度儀; 側面圖; 輥型檢查儀; 機械而精度測驗儀; 肌部輪廓描記器; 輪廓曲線儀表面光度儀; 面部輪廓描記器 面形描記器 驗平儀 輪廓測定儀 表面光度儀; 縱剖面測繪器“profilverschiebung profile displacement“ 中文翻譯： 齒廓變位“profilogram“ 中文翻譯： 輪廓曲線“profilverzerrung profile distortion“ 中文翻譯： 外形畸變“profilo elect gerecler“ 中文翻譯： 電氣總公司“profilwelle splined shaft“ 中文翻譯： 成型軸“profillehrring ring gauge“ 中文翻譯： 成型環規
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Therefore , in principle the scattering may be predicted from measurements of the surface profile . in this paper the author also discussed nonspecular scattering for mo / si multlayer coated primary and secondary mirrors of the measured schwarzschlid optics based on power spectral density of these mirrors measured by both optical profilometer ( wyko ) and atomic force microscopy ( afm ) 因此，我們可以通過檢測多層膜反射鏡基底的粗糙度來表征多層膜反射鏡非鏡面散射對光學系統性能的影響，亦即通過檢測多層膜反射鏡基底的粗糙度調整拋光工藝參數，獲得低散射的多層膜反射鏡。 |
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In the present dissertation , friction - induced noises emitted by a flat specimen rubbing against another flat specimen or a ball specimen under reciprocating sliding are studied . the detailed observation of the scars is conducted by means of a scanning electrical microscope ( sem ) , laser scanning microscope ( lsm ) , optical microscope and profilometer . the dynamic state variables are analyzed in detail using the discrete wavelet transform 使用電子掃描顯微鏡( sem ) 、激光掃描顯微鏡( lsm ) 、光學顯微鏡和表面輪廓測量儀等設備對摩擦噪聲發生的區域進行了詳細的觀察和分析，運用小波變換技術對摩擦噪聲狀態下的動力學變量進行了深層次的研究，應用matlab simulink語言對摩擦系統進行了振動動力學仿真，系統地研究了摩擦噪聲的形成機理。 |
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Compared with sputter crater depth results measured with surface profilometer , the converted depth results obtained by gd - oes were accurate and credible 輝光光譜定量轉化所得深度結果與表面形貌儀剛定相應濺射坑的深度結果對比發現，本方法定量轉化深度結果準確可靠。 |
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Advanced technical ceramics - methods of test for ceramic coatings - part 1 : determination of coating thickness by contact probe profilometer ; german version en 1071 - 1 : 2003 高級工業陶瓷.陶瓷覆層的試驗方法.第1部分:用接觸式 |
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Tests relating to pavements . evenness tests . part 3 : determination of longitudinal evennes indexes calculated from profilometer data 路面試驗.滑度試驗.第3部分:通過表面光度儀數據計算縱向平滑度指數 |
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Advanced technical ceramics . methods of test for ceramic coatings . determination of coating thickness by contact probe profilometer 高技術陶瓷.陶瓷涂層的試驗方法.通過接觸探頭輪廓測定儀測定涂層厚度 |
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Test method for thickness of fine ceramic thin films - film thickness by contact probe profilometer 精細陶瓷薄膜厚度的試驗方法.用接觸探針式表面光度計法測定薄膜厚度 |
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A new profilometer with a dual - frequency laser for measuring the surface roughness with 1 ? nm 級表面粗糙度的雙頻激光測量系統 |
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Profilometer - a tool that is used for measuring surface topography 表面形貌劑-一種用來測量晶圓片表面形貌的工具。 |